薄膜開(kāi)關(guān)壽命測(cè)試儀操作規(guī)范
薄膜開(kāi)關(guān)在很多用戶的使用中,會(huì)發(fā)現(xiàn)壽命短缺,就是使用時(shí)間不長(zhǎng),很快就壞了,這個(gè)是什么原因,對(duì)此小編是知道的,但是如果客戶需要知道詳細(xì)的數(shù)值,就需要做薄膜開(kāi)關(guān)的壽命檢測(cè)了,不單單是這個(gè)壽命檢測(cè),還需要打樣回去做產(chǎn)品測(cè)試等方法,那對(duì)于薄膜開(kāi)關(guān)的壽命檢測(cè)儀也是我們創(chuàng)銘電子常用到的,具體如果客戶需要詳細(xì)數(shù)值,應(yīng)該如何操作呢,我們創(chuàng)銘電子有詳細(xì)的操作規(guī)范的。
具體就不一一述說(shuō),簡(jiǎn)單講就是把需要的薄膜開(kāi)關(guān)固定到測(cè)試儀器上面,調(diào)整測(cè)試儀器的數(shù)值,每分鐘多少下,速度多塊等,然后就是啟動(dòng)測(cè)試了,測(cè)試儀會(huì)記錄這個(gè)過(guò)程的次數(shù)等,具體詳細(xì)可以咨詢我們創(chuàng)銘電子,可以提供一站式解決方案。
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